[공지] J3D 특허 취득 : 3D스캔 데이타 관련

당사는 자사의 기술력을 인정받아 

2024년 11월 11일, 

3D스캔 데이터 기반의 정량 측정 기술에 대한 특허를 공식 등록하였습니다. 

특허 정보

• 특허명: 3D스캔 모델로부터 정량적 측정 데이터를 추출하는 방법, 장치 및 시스템

• 등록번호: 제 10-2730467호

• 출원번호: 제 10-2024-0047888호

• 출원일: 2024년 4월 9일

• 등록일: 2024년 11월 11일

기술 개요

• 이번 특허는 3D스캐너로 획득한 점군(Point Cloud) 및 메쉬 데이터로부터 실측 기반의 정량 데이터를 자동으로 추출할 수 있는 방법 및 시스템에 대한 기술입니다.
• 이는 기존의 수동 측정 방식보다 정확하고 일관된 품질 데이터를 제공하며, 역설계, 품질 검사, 공정 관리 등 다양한 산업 분야에서 활용 가능합니다.

향후 활용 및 적용 분야

• 3D 품질 검사 자동화 시스템 구축
• 산업용 3D스캐너 데이터 기반 분석 솔루션 개발
• 정량적 치수 데이터 추출 및 리포팅 자동화
• 디지털 트윈 및 공정 시뮬레이션 기반 데이터 연계

이번 특허 등록을 계기로 제이쓰리디는 3D스캐너 기반의 데이터 활용 기술 고도화와 더불어,
산업 전반에 걸쳐 보다 정밀하고 효율적인 3D스캔 응용 솔루션을 제공해 나가겠습니다.

앞으로도 많은 관심과 성원 부탁드립니다.

감사합니다.